日本photonic-lattice光子晶体图像传感器PA/WPA红外系列
日本photonic-lattice光子晶体图像传感器PA/WPA红外系列
这是一个可以用相机高速测量双折射和相位差的系统，该相机利用结合了我们的光子晶体和我们自己的软件的图像传感器。
PA/WPA系列
该设备可以评估透明部件的变形和薄膜的延迟不均匀性。从显微镜尺寸到大尺寸（约 50 cm），我们备有与测量对象相对应的产品系列。
PA系列是测量范围为0～130nm的低相位差装置，以500万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
适用于测量相位差小的物体，如玻璃制品、镜片等。
WPA 系列是通过测量三个波长的双折射/相位差分布，将相位差测量范围从 0 扩展到 3500 nm 的系列。
适用于相位差较大的透明树脂制品的测量
PA/WPA-近红外系列
测量波长为 850 nm 的 PA/WPA 系列。我们为不透射可见光的树脂和硫属化物玻璃（人脸识别、LiDAR 系统等）的质量控制和工艺开发提供强大的工具。
配合镜头分析功能，在用户设定的条件下进行测量，自动判断合格/不合格。将测量时间减少到几乎为零秒。实现快速检测。通过改变测量波长，实现了超过标准WPA相位差测量范围的高相位差测量。一种专注于色散的新算法。这样可以实现高度可重复的测量，几乎不会发生在测量厚的和复杂形状的树脂成型产品时容易发生的数据突然变化。
