otsukael膜厚监测仪 膜厚测量仪FE-300的介绍
otsukael膜厚监测仪 膜厚测量仪FE-300的介绍
这是一款小型、低成本的膜厚测量仪，可通过高精度光学干涉测量法实现易于操作的膜厚测量。
我们采用一体式外壳，将必要的设备存储在主机中，实现了稳定的数据采集
特征
支持从薄到厚的广泛薄膜厚度
使用反射光谱的膜厚度分析
紧凑、低成本、非接触、无损、高精度测量
简单的条件设置和测量操作！任何人都可以轻松测量薄膜厚度
使用峰谷法、频率分析法、非线性最小二乘法、化法等，可以进行广泛的膜厚测量。
光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）可以通过非线性最小二乘法的膜厚分析算法进行。
测量项目
绝对反射率测量
薄膜厚度分析（10层）
光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
测量对象
功能性薄膜、塑料
透明导电薄膜（ITO、银纳米线）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、胶粘剂、粘合剂、保护膜、hard Coat、抗指纹代理等半导体
化合物半导体、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire等。表面处理
DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。光学材料
滤光片、增透膜等FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机薄膜、密封胶）等其他
HDD、磁带、建材等
