（LQS）铝膜测厚仪库号：M334408

（LQS）铝膜测厚仪库号：M334408（LQS）铝膜测厚仪库号：M334408本产品主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的测量，随着新型包装材料的发展，要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层，因而提高了薄膜对气体的阻透性，铝膜的厚度直接影响膜阻透性，因而测试和控制铝膜厚度尤为重要，该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。
本产品按照国标GBT4957-2003涡流法原理制造，采用现在流行的触摸屏操控技术，产品新颖，具有测量精度高、稳定性好，既有直观厚度读数又有传统方欧显示。厚度标准由中国计量科学研究院测定，方欧参照GBT15717-1995电阻法，采用4294A型阻抗分析仪测定，方欧值能符合进口生产设备上方欧显示。
技术指标
量程范围： 90-800 Å（用户需要量程可扩大到2000 Å）
方阻： 95-0.47Ω/□
分辨率： 1埃
测量准确度： ≤±2%（F.S）
读数重现性（同一测试点）： 10埃
应用对象 ： 软包装新材料

注：1微米＝1000纳米＝10000 Å本产品主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的测量，随着新型包装材料的发展，要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层，因而提高了薄膜对气体的阻透性，铝膜的厚度直接影响膜阻透性，因而测试和控制铝膜厚度尤为重要，该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。
本产品按照国标GBT4957-2003涡流法原理制造，采用现在流行的触摸屏操控技术，产品新颖，具有测量精度高、稳定性好，既有直观厚度读数又有传统方欧显示。厚度标准由中国计量科学研究院测定，方欧参照GBT15717-1995电阻法，采用4294A型阻抗分析仪测定，方欧值能符合进口生产设备上方欧显示。
技术指标
量程范围： 90-800 Å（用户需要量程可扩大到2000 Å）
方阻： 95-0.47Ω/□
分辨率： 1埃
测量准确度： ≤±2%（F.S）
读数重现性（同一测试点）： 10埃
应用对象 ： 软包装新材料

注：1微米＝1000纳米＝10000 Å