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设备选型之测厚仪

2014年09月23日 15:28:01人气:2140来源:河北昊宇仪器设备有限公司

导读:不同的测厚仪,结构不同、测量的范围不同、适合的作业环境也不同,选择符合国家标准并且能够适合作业的测厚仪需要对各指标都进行判断和比较。本文是测厚仪的选型指南,教您如何进行测厚仪的选择。

       在测厚仪的选择中,有很多影响因素:

       1、基体金属磁性质—磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

       2、表面粗糙度—基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。

       3、 基体金属厚度— 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
 
       4、 测头压力— 测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
 
       5、 曲率—试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

       6、 试件的变形—测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。

       7、 基体金属电性质—基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

       8、  测头的取向—测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。

       9、 附着物质—那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
 
       10、磁场—周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。

      测厚仪有许多的类型,比如涂层测厚仪、超声波测厚仪等,但是百变不离其中,以上对测厚仪选择的描述,一定会在今后的选型过程中起到很大的帮助。河北昊宇仪器设备有限公司是专业测厚仪销售企业,的科技,*的产品,欢迎各大商家前来选购。

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