镀层测厚仪THICK800A检测原理
1.荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征*可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。*可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。*薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及金镀层厚度和成分进行测量。此外，适用于无铅焊锡的应用。*备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
2.测量原理如图1所示，物质经X射线或粒子射线照线后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。测定主机 (高度900mm,重125kg左右)(1) 样品室SFT9200可移动量: 220 (W) × 150(D) × 150(H) mmSFT9250可移动量: 400 (W) × 300(D) × 50(H) mmSFT9255可移动量: 400 (W) × 300(D) × 15 (H) mm样品种类: 固体，液体检测环境: 大气样品观察: 彩色CCD摄像头X射线安机构: 样品室盖按键开启，测样时自动上锁安装环境：通风良好，温度10～35℃，湿度35～80%(2) X射线发生部照射方式: 由上往下照射（避免凹凸样品不能测试）X射线管 : W 靶管电压 : 45Kv管电流 : 1mA冷却方式: 空冷次滤波器: Al固定二次滤波器: Co选配照射区域(5个标准配置): 0.1,0.2,0.3mm 圆型0.2×0.05 0.05×0.02mm 方型(3) 检测器检测器形式: 比例计数管(4)校正自动校正（X射线强度，X射线能量）（5）X-Y-Z轴自动
Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
是具有自主知识产权的内膜厚仪生产型高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
