TT230氧化膜测厚仪采用涡流法测量原理,是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
主要功能
可进行零点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
自动关机功能。
删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
主要技术指标
测量原理:涡流法
测量范围:1~1250μm
测量精度:±(3%H+1.5)μm(零点校准)
±[(1~3)%H+1.5] μm(二点校准)
标准配置
TT230主机(含测头) 1台
标准片 5片
铝基体 1块 TT230主机(含测头) 1台
标准片 5片
充电器 1个