TT230氧化膜测厚仪采用涡流法测量原理，是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
主要功能
可进行零点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
自动关机功能。
删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
主要技术指标
测量原理：涡流法
测量范围：1～1250μm
测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准）
标准配置
TT230主机（含测头） 1台
标准片 5片
铝基体 1块 TT230主机（含测头） 1台
标准片 5片
充电器 1个
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