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（LQS）镀层测厚仪型号:RR64-leeb251库号：M404878

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更新时间：2017-04-05 08:14:02浏览次数：1266

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产品简介

（LQS）镀层测厚仪型号:RR64-leeb251库号：M404878 功能与特点
采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）；
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式

(LQS）镀层测厚仪型号:RR64-leeb251库号：M404878 (LQS）镀层测厚仪型号:RR64-leeb251库号：M404878 (LQS）镀层测厚仪型号:RR64-leeb251库号：M404878

单用一体涂镀层测厚仪/便携式涂层测厚仪表面粗糙度仪镀层测厚仪 型号:RR64-leeb251

库号：M404878 查看hh

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leeb251涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种小型测量仪，它能快速、无损伤、地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
符合以下标准：
GB/T 4957-1985 涡流方法；
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》；
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。
功能与特点
采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）；
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)；
具有米、英制转换功能；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。
技术参数
测头类型：N
测量原理：电涡流
测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力：1μm(10um以下为0.1um)
探头连接方式：一体化
示值误差：
一点校准(um)：±[3%H+1.5]
两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件：
小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
基体小面积的直径(mm)：ф5
小临界厚度(mm)：0.3
温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：无
关机方式：自动
电源：二节3.6V镍镉电池
外形尺寸：150×55.5×23mm
重量：250g

一体机电涡流,0-1250um，一个按键集团

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（LQS）镀层测厚仪 型号:RR64-leeb251库号：M404878

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