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XRF菲希尔XDLM膜厚仪检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费.
XRF菲希尔XDLM膜厚仪,在测量技术上同行业十五年.强大的WINFTM软件加上zui精准的FP数学测量方法,使同行业无法比美,金霖电子在中国大陆华南区*代理菲希尔/膜厚仪,主营XDL XUL XAN XDLVP系列.菲希尔/膜厚仪,此仪器特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.也有杰出的表现.可适用于各种样品,从较厚的样品(机械零部件)之大型线路板(PCB)及电子元器件等 符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
XRF菲希尔XDLM膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.:王生: : 地址:宝安中心区宏发中心大厦
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