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深圳市善时仪器有限公司
深圳市善时仪器有限公司
镀层测厚仪 镀液分析 X荧光光谱仪
型号/规格iEDX150T
品牌/商标ISP
企业类型制造商
新旧程度全新
产品型号iEDX-150T
原产地韩国
能量分辨率129±5电子伏特eV
测量时间5-40s
平台移动范围160*160*100mm
仪器尺寸526*637*484mm（X*Y*Z）
镀层测厚仪 镀液分析 X荧光光谱仪
（一）产品优势
镀层测厚仪 镀液分析 X荧光光谱仪
可进行镀层检测，检测层数范围1-6层；
平台移动范围可达160*160*100mm(X*Y*Z)；
激光定位和自动多点测量功能；
可检测固体、液体、粉末状态材料；
运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；
可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析；
操作简单、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速检测（5-40秒）；
zui配置：SDD探测器、英国牛津X射线管、美国SPELLMAN高压电源
可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件；
软件*升级；
无损检测，一次性购买标样可*使用；
使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供*保姆式服务；
本设备可加环保RoHS分析功能，实现镀层、环保和成份分析同时检测。
（二）产品特征
1.（XRF）
2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）
3. Multi Ray. 运用基本参数法（FP）软件，对样品进行精确的镀层厚度分析，可对镀液进行定量分析。
4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄膜镀层厚度测量
相对（比）模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如：Cu/ABS等]
双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。zui小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt
Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
6. Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统
7. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
8. 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有zui多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
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