芯片测试自动化恒温恒湿箱 返回列表页

芯片测试自动化恒温恒湿箱能模拟各种湿度或温度环境满足GB/T 10589，GB/T2423，GB/T5170.2，GJB150A1/4各种标准要求下的可靠性指标及稳定性能等参数，将给广大需求顾客提供预测和改进产品质量获得可靠性的试验依据。

1、芯片测试自动化恒温恒湿箱规格参数：(除了以下标准尺寸爱佩还可以为大家定制非标尺寸）

AP-HX-80试验箱内尺寸（W*D*H）mm:400*400*500

AP-HX-150试验箱内尺寸（W*D*H）mm: 500*500*600

AP-HX-225试验箱内尺寸（W*D*H）mm: 600*500*750

AP-HX-408试验箱内尺寸（W*D*H）mm: 600*800*850

AP-HX-800试验箱内尺寸（W*D*H）mm: 1000*800*1000

AP-HX-1000试验箱内尺寸（W*D*H）mm:1000*1000*1000

2、恒湿湿度范围：20%～98%R.H；

3、恒温温度范围可选：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃.

4、解析精度：温度：0.01℃；湿度：0.1%R.H

5、温度波动度：±0.5℃；

6、温度均匀度：±2℃；

7、升温速率：约3℃/min（从低温升到高温、非线性空载）；

8、降温速率：0.75℃-1℃/min（从高温降到温、非线性空载）；

9、本试验箱可模拟高温恒温、低温恒温、高温恒湿、湿热交变等不同环境气候的测试条件，搭配容易操作和学习的高准确性编程系统，提供佳测试性能条件，广泛适用于电工、电子、电器、LED、汽车配件、手机、仪器仪表及其它产品零部件在高低温湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，确定上述产品对高低温及湿热环境的耐温耐湿适应性检测