IGBT动态参数测试系统-IGBT测试 静态测试，功率半导体模块测试系统的设计、制造、检查、试验等遵循如下国内标准，但不限于以下标准。GB 13869-2008...

华科智源专业研发生产半导体测试设备，提供功率器件参数测试仪，IGBT动态参数测试系统，功率期间参数测试，功率半导体测试系统，大功率IGBT到小功率管MOS的测试...

功率器件参数测试仪-半导体分立器件HUSTEC-2000是一套高速多用途半导体分立器件智能测试系统，它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，可真实准确测试下列...

1.IGBT动态参数测试仪-华科智源 HUSTEC-2015能够对比不同的IGBT的参数；2.华科智源的IGBT双脉冲测试台能够用来评估IGBT驱动板的功能和性...

IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件，其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响变换器的性能。因此准确测...

大功率IGBT测试仪华科智源是可用于测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM以及二极管的VRRM、IRRM参数以及其它半导体器件的相关参数测试的专业设...

在线式IGBT测试仪-华科智源 HUSTEC-1600A产品是主要针对半导体功率器件的静态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换，可实现对各种封装形式的 I...

目前我公司提供的IGBT静态参数测试仪该项新产品采用模块式功放结构, 主极电流400A/500A/1000A/1250A可选, 2500V/5000V选项可以根...

华科智源HUSTEC-1200A-MT电参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体...