详细摘要： 晶圆x射线晶体定向仪分拣系统用于全自动分拣、晶体取向、optical notch and flat determination测定等。Si | SiC | Al...
产品型号：所在地：更新时间：2024-04-02 在线留言污水处理设备 污泥处理设备 水处理过滤器 软化水设备/除盐设备 纯净水设备 消毒设备|加药设备 供水/储水/集水/排水/辅助 水处理膜 过滤器滤芯 水处理滤料 水处理剂 水处理填料 其它水处理设备
束蕴仪器（上海）有限公司
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详细摘要： 晶圆x射线晶体定向仪分拣系统用于全自动分拣、晶体取向、optical notch and flat determination测定等。Si | SiC | Al...
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详细摘要： 德国Freiberg Instruments 电阻率测试仪（RESmap ）在对低电阻率晶锭和晶圆进行非接触式测量方式上拥有非常重要的重复性 Si | Ge |...
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详细摘要： 测量摇摆曲线意味着在Theta-scan模式下进行测量，这需要一个测角仪。一个双晶体被带入主光束路径，以减少光谱宽度和发散度。然而，其副作用是强烈的强度降低。
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详细摘要： 晶锭XRD有着的XRD系统，用于单晶晶锭的自动定向、倾斜和对准研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
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详细摘要： 在晶圆片的注入和光刻过程中，需要平面或凹槽作为定位标记。切割过程中，晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平面或缺口的位置至关重要。
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详细摘要： Mapping面扫台允许使用受控的网格模式来探索整个样品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在转盘顶部容纳额外的XY定位平台。样品表面可以根据用户定...
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详细摘要： 灵活的OEM少子寿命测试仪器，用于各种不同样品的少子寿命测量，从单晶硅砖到多晶硅砖，从生长的硅片到不同层或金属化的硅片的过程控制。标准的软件接口，便于连接到许多...
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详细摘要： 低成本桌面单点测量硅片或晶砖，用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品，无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品，高达156毫米硅砖，结果可...
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详细摘要： MDPmap被设计成一个紧凑的台式非接触电学表征工具，用于离线生产控制或研发，在稳态或短脉冲激励（μ-PCD）下，在一个宽的注入范围内测量参数，如载流子寿命、光...
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详细摘要： PIDStudio是一个很的软件，它非常容易操作和直观，因为它根据我们用户的反馈持续更新和改进。
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详细摘要： 用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。
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详细摘要： 便携式现场PID（电位诱发衰减）测试仪，适用于不同类型和尺寸的晶体硅组件，无需拆装，测试时间在8小时之内（测量时间将少于8小时）。PIDcheck是与德国Fra...
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详细摘要： 用于单面及双面电池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太阳能电池、晶体硅太阳能电池、微型模块等的质量控制Freiberg公司与德国FraunhoferC...
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详细摘要： SDT 型旋转滴界面张力仪凭借的测量精度、宽广的测量范围、较低的样本量需求和简易的样品预处理方式，成为乳液和表面活性剂研发和质控工作的理想解决工具。这款张力仪能...
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详细摘要： 表面活性剂作为乳化剂的作用是基于其能降低互不相溶两相间的界面张力的速度。其应用范围能涵盖非常快到非常慢的加工过程，这使得一次测量就能测量从动态到平衡态的界面张力...
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详细摘要： ，X射线衍射仪是材料学相关领域基础且的分析手段，具备无损、样品制备简单等优势。X射线衍射仪一般主要由X射线光源部分、测角仪、样品台、光路系统、探测器五大部分组成...
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详细摘要： 气泡压力张力仪 – BP100能高精度测量动态表面张力。通过对表面活性剂迁移特性的可靠分析，来优化喷涂、镀膜、印刷及去污等高速进程。
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详细摘要： 力学法表面张力仪–K20是一台精确测量表面张力和界面张力的半自动仪器，性能稳定可靠。环法和板法作为主要张力测试方法，K20为表面活性剂溶液及界面加工的日常质量保...
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详细摘要： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的leader，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 ...
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详细摘要： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）作为荧光光谱仪，可以提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种耦联技术的解决方案。HORIBA Sc...
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