李小姐
当前位置:广电计量检测集团股份有限公司>>失效分析>>轨道交通>> 器件测试轨道交通电子元器件失效分析可加急检测
加工定制 | 是 | 服务区域 | 全国 |
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服务周期 | 常规3-5天 | 服务类型 | 元器件筛选及失效分析 |
服务资质 | CMA/CNAS认可 | 证书报告 | 中英文电子/纸质报告 |
增值服务 | 可加急检测 | 是否可定制 | 是 |
是否有发票 | 是 |
轨道交通电子元器件失效分析可加急检测服务范围
IGBT、IC集成电路、微机电器件
检测标准
GJB548微电子器件试验方法和程序
检测项目
(1)常见检测项⽬:3DX 射线检查、声学扫描检查、开封、IC 取芯片、芯片去层、衬底检查、扫描电镜检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、粗细捡漏、ESD 测试
(2)常⻅失效模式分析:静电损伤、过电损伤、键合异常、封装异常、散热异常、电参数漂移
相关资质
CNAS
轨道交通电子元器件失效分析可加急检测服务背景
随着动车及高速列车电控性能的提升,其使用的电子元器件占比越来越高。一方面,为保证动车及高速列车的运行可靠性,需要对所使用的电子元器件进行充分的性能摸底,以熟悉产品性能及预期寿命。另一方面,列车运行过程中一旦出现电子元器件失效,将可造成灾难性的损失;而为满足电子元器件高功率、高负载、高性能的要求,列车上多使用进口集成电路芯片,因检测手段匮乏、分析方法空白,其失效问题常常受制于国外供应商。
我们的优势
广电计量通过与华为、海思等国内集成电路芯片厂的深度合作,不断提高自身芯片类检测硬件实力及分析软件实力。具备分析芯片14nm及以上工艺能力,同时可以将问题锁定在具体芯片层或者um范围内。
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