CX40M系列正置金相显微镜提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构；操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地质矿物分析、精密工程测量等领域。
正置金相显微镜性能特点
■ 光学系统：无限远色差校正光学系统（CSIS），像质更好，分辩率更高，观察更舒适
■ 目镜及物镜：高眼点、超宽视野平场目镜，PL10X/22，视场数达到22mm，提供更加宽阔平坦的观察空间，并可加装用于测量的各类测微尺，无限远平场消色差超长工作距专业金相物镜，无盖玻片调计
■ 观察筒：铰链式双目/三目/数码一体化观察筒，视度可调节，30°倾斜，可进行摄影摄像，对观察图像进行采集和保存，配置电脑和专业软件实现图像分板
■ 调焦机构：低手位粗微调同轴调焦机构，粗调行程：28mm，微调精度：0.002mm，带有平台位置上下调节机构，样品高度可达：50mm（反射）、30mm（透反射），带有粗调松紧调节装置和随机限位装置
■ 照明系统：反射：反射照明器，带视场光栏和也径光栏，带斜照明装置（可以在观察细微组织结构时产生浮雕立体的特殊观察效果），自适应90V-240V宽电压，单颗3W LED高亮度冷光源
■ 透射：90V-240V宽电压，6V30W进口卤素灯，有效保护和延长卤素灯泡的使用寿命
正置金相显微镜技术参数：
正置金相显微镜性能特点
■ 光学系统：无限远色差校正光学系统（CSIS），像质更好，分辩率更高，观察更舒适
■ 目镜及物镜：高眼点、超宽视野平场目镜，PL10X/22，视场数达到22mm，提供更加宽阔平坦的观察空间，并可加装用于测量的各类测微尺，无限远平场消色差超长工作距专业金相物镜，无盖玻片调计
■ 观察筒：铰链式双目/三目/数码一体化观察筒，视度可调节，30°倾斜，可进行摄影摄像，对观察图像进行采集和保存，配置电脑和专业软件实现图像分板
■ 调焦机构：低手位粗微调同轴调焦机构，粗调行程：28mm，微调精度：0.002mm，带有平台位置上下调节机构，样品高度可达：50mm（反射）、30mm（透反射），带有粗调松紧调节装置和随机限位装置
■ 照明系统：反射：反射照明器，带视场光栏和也径光栏，带斜照明装置（可以在观察细微组织结构时产生浮雕立体的特殊观察效果），自适应90V-240V宽电压，单颗3W LED高亮度冷光源
■ 透射：90V-240V宽电压，6V30W进口卤素灯，有效保护和延长卤素灯泡的使用寿命
正置金相显微镜技术参数：
型 号 | CX40M |
光学系统 | 无限远色差校正光学系统 |
观 察 筒 | 铰链式双目/三目，30°倾斜，瞳距调节范围：54-76mm；分光比：双目，双目/三目80%/20% |
目 镜 | 标配：高眼点、超宽视野平场目镜，PL10X/22，视场数22mm |
转 换 器 | 内定位内倾式五孔转换器 |
物 镜 | 无限远长工作距平场消色差金相物镜5X LMPL5X /0.15 WD10.8mm |
无限远长工作距平场消色差金相物镜10X LMPL10X/0.30 WD10mm | |
无限远长工作距平场消色差金相物镜20X LMPL20X/0.45 WD4mm | |
无限远长工作距平场半复消色差金相物镜50X LMPLFL50X/0.55 WD7.8mm | |
调焦机构 | 低手位粗调同轴调焦机构，粗调行程：28mm，微调精度：0.002mm |
带有平台位置上下调节机构，样品高度可达：50mm（反射） | |
带有粗调松紧调节装置和随机限位装置 | |
载 物 台 | 双层机械载物台，低手位同轴调节，尺寸：175X145mm，行程76X42mm |
反射照明系统 | 反射照明器（带视场光栏和也径光栏，带斜照明装置），自适应宽电压90-240V，单颗3W LED照明 |
偏光附件 | 起偏镜插板、固定式检偏镜插板，可360°旋转式检偏镜插板 |
CTV接口 | 1X（标配）、1/2X（选配） |
附 件 | 载物台板（玻璃、金属），干涉滤色片（蓝、绿、红、白），压平机 |
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