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首页>>深圳市鹏锦科技有限公司>>产品展示>>微纳尺寸测量仪>>YXCL200

  • 半导体质量管控影像测量仪YXCL200 参考价:面议

    半导体质量管控影像测量仪YXCL200几何公差测量和传统2D/3D尺寸测量如平面度、圆度、位置度、特征拟合、距离、角度等,强大的数据处理能力与算法,操作简单便捷...
    型号: 厂商性质:代理商所在地:深圳市 对比
    半导体质量管控影像测量仪YXCL200可测几何量三维多传感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形状公差
    2024/8/7 14:46:051142
  • 精密机械加工质量管控影像测量仪YXCL200 参考价:面议

    精密机械加工质量管控影像测量仪YXCL200了几何公差GD&T测量和传统2D/3D尺寸测量,如平...
    型号: 厂商性质:代理商所在地:深圳市 对比
    精密机械加工质量测量仪YXCL200可测几何量三维多传感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形状公差
    2024/8/7 14:44:091123
  • 电路板质量管控影像测量仪YXCL200 参考价:面议

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    型号: 厂商性质:代理商所在地:深圳市 对比
    电路板质量管控影像测量仪YXCL200可测几何量三维多传感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形状公差
    2024/8/7 14:42:361077
  • 三维复合式影像测量仪YXCL200 参考价:面议

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    型号: 厂商性质:代理商所在地:深圳市 对比
    三维复合式影像测量仪 YXCL200可测几何量三维多传感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形状公差
    2024/8/7 14:36:461234
  • 可测几何量,三维多传感器YXCL200 参考价:面议

    可测几何量,三维多传感器YXCL200产品集成了几何公差GD&T测量和传统2D/3D尺寸测量,如平面度、圆度、位置度、特征拟合、距离、角度等,强...
    型号: 厂商性质:代理商所在地:深圳市 对比
    三维多传感器测量系统可测几何量三维多传感器YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形状公差线面轮廓度
    2024/8/7 14:34:35985
  • 三维多传感器测量系统,YXCL200 参考价:面议

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    三维多传感器测量系统YXCL2002D/3D尺寸表面粗糙度形状公差线面轮廓度偏差颜色分析
    2024/8/7 14:32:421042

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