西安天光测控技术有限公司
详细摘要： 热阻测试系统测试参数：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性...
产品型号：ST-Thermal_Zth所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 天光测控被动循环试验台测试参数：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器...
产品型号：ST-Thermal_TC所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 热阻测试系统测试参数：可测试器件稳态热阻Rth（J-C）散热：设备采用水冷散热，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性
产品型号：T3Ster所在地：西安市更新时间：2021-11-05 在线留言
详细摘要： 稳态热阻测试系统测试参数：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热...
产品型号：ST-Thermal_X所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
详细摘要： 分钟级功率循环试验台测试范围：Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的分钟级...
产品型号：ST-Thermal_PCmin所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
详细摘要： K曲线测试系统测试参数：可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
产品型号：ST-Thermal_Kcurve所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言
详细摘要： 热阻（抗）测试系统测试参数：Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
产品型号：ST-Thermal_RZth所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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