西安天光测控技术有限公司
详细摘要： 半导体管测试设备测试参数：可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIO...
产品型号：ST-SP 2002_5所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 天光测控MOSFET参数测试仪测试参数：可测试 19大类27分类 的大中小功率分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs...
产品型号：ST-SP 2001所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 晶体管曲线追踪仪测试参数：可测试 19大类27分类 的大中小功率分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs...
产品型号：ST-SP 2000_5所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 分立元器件测试仪测试参数：可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIO...
产品型号：ST-SP 2000_5所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 半导体分立器件测试筛选系统测试参数：可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT...
产品型号：ST- SP 2000所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 元器件综合测试仪用于质量部IQC来料检验测试参数：可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材...
产品型号：ST-SP2000（250A）所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： Mosfet场效应管全参数测试仪测试参数：Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / BJTs / SCRs / MOSFETs 静态参数测...
产品型号：ST-SP2000（100A）所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 晶闸管综合测试仪测试范围：1. 门极参数测试：VGT、IGT2. 维持电流测试：IH3. 擎住电流测试：IL4. 阻断参数测试：VD、VR 、ID、IR5. 压...
产品型号：ST-SP_X所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 半导体测试仪 MOS管IGBT等器件静态参数本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来...
产品型号：ST-SP 2000所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 测试范围广 19大类，27分类 功率器件测试仪应用领域：院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机...
产品型号：ST-SP 2001所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： ST-DC2000_X 系列·半导体特性测试仪,可测试 19大类27分类 的大中小功率的半导体分立器件及模块的静态直流参数，高压源2000V ，大电流...
产品型号：ST-DC2000_X所在地：西安市更新时间：2023-09-13 在线留言
详细摘要： 晶体管测试系统测试参数：可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIOD...
产品型号：ST-SP 2005所在地：西安市更新时间：2019-06-12 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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