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西安天光测控技术有限公司
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能测 36类“半导体分立器件"“电子元件"诸如 Diode、BJT、MOSFET、IGBT、SCR、光耦、继电器、IC、电流传感器、保护器等；※ 测试项目包括击穿、漏电、增益、导通、关断、触发、保持还可测试结电容，如Cka,Ciss,Crss,Coss；
元器件直流参数测试系统 & 半导体分立器件静态参数测试筛选系统 & 晶体管图示仪 & 晶体管测试仪
能测试很多电子元器件的静态直流参数
覆盖 7 大类别 26 分类，包括“二极管类"“三极管类"“保护类器件"“稳压集成类"“继电器类"“光耦类"“传感监测类"等品类的繁多的电子元器件。高压源 1400V（选配 2KV），高流源 40A （选配 100A,300A,500A）栅极电压 40V。分辨率至 1mV / 30pA 精度可至 0.5%
除静态参数还可测试“结电容"，支持“脉冲式自动加热"和“分选机连接"
※ 半导体分立器件静态参数测试仪
※ 晶体管图示仪
※ 元器件参数测试仪
※ 半导体图示仪
※ 半导体静态特性分析仪
※ 半导体分立器件静态参数测试筛选系统
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