18922517093
非接触式热物性（热扩散率）测量装置 TA35型的原理分析
热物性测量装置 热波分析仪
TA35型
[特点]
・非接触式测量，不受接触（热）电阻的影响
・测量范围宽～从有机薄膜到金刚石〜
・单个装置可测量水平（XY）和垂直（Z）方向
・垂直（Z ））方向映射测量
(1) 周期性加热源 (P0eiωt) 以热扩散率 α 对样品表面进行点加热
(2) 加热点温度的交流分量表示为 Tac = P0eiωt
(3) 周期性加热源。 (P0eiωt) 置于周围区域，激发温度传播可以用以下公式表示。
(4) c：单位体积比热容，ɤ：距点热源的距离
k 为温度波的波数，用下式表示：
(5) 式中μ为热扩散长度。因此，相位变为以下等式。
热波分析仪 TA 可满足客户开发现场的需求。
由于无需将测量样品的形状与设备相匹配，因此可以显着减少样品制备的工作量和成本。
垂直测量/水平测量
<应用>
电子元件散热材料的评价
半导体激光电极的评价
发热材料的评价
硬质合金工具涂层的评价等
你了解各向异性吗？树脂与各种填料(A1N、SiO 2 、SiC、CNT)的复合材料的热导率
根据混合比例的不同而发生很大变化，因此测量热扩散率非常重要。
该设备可以对同一工件和样品同时进行三个方向（X、Y和Z）的连续测量，非常适合测量想要了解各向异性的样品。 可用于
测量电子电路中使用的散热片、碳纤维增强树脂、高热电树脂、聚酰亚胺片等各种样品。
测量目标 测量结果
层压材料是由具有不同导热系数的材料分层制成的，因此预计传热将根据粘合的均匀性而发生很大变化。
然而，传统上精确测量层压材料的导热率极其困难，这使其成为开发过程中的问题之一。
该装置连续获取并绘制垂直相位延迟，从而可以相对评估层压材料的热传导。
它不仅适用于材料热物理性质的相对评估，而且适用于检查零件的缺陷和检查均匀性。
测量目标 测量结果
热导率分布评价（定性值） *可以将热导率的均匀程度绘制成图表。
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，环保在线对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
