图像处理卤素光源FA-100C/FA-150EN 过滤器底座规格 F20 系列过滤器可以从纤维出口插入和移除。　型号：FA-100C-K 型号：FA-150EN...

seiwaopt卤素光纤光源FA-100C/FA-150EN 过滤器底座规格 F20 系列过滤器可以从纤维出口插入和移除。　型号：FA-100C-K 型号：FA...

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YP-250I电子元器件用表面检查灯大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).

YP-250I半导体芯片检测用表面检查灯大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).

YP-250I液晶面板检测用目视检查灯大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).

YP-250I液晶屏幕检测用目视检查灯大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).

YP-250I半导体行业用目视检查灯大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).

YP-250I晶圆表面瑕疵检查灯大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).

YP-250I高照度卤素强光灯大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).

YP-150I表面检查灯用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来

YP-150I目视检查灯用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来

YP-150I卤素强光灯用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来

日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来

日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来

moritex卤素光源MHF-V501-DSC紧凑、多功能、高性价比的50W卤素光源。 这是卤素光源系列中成本低、寿命最长的型号。

moritex卤素光源MHF-V501-DSO紧凑、多功能、高性价比的50W卤素光源。 这是卤素光源系列中成本低、寿命最长的型号。

moritex卤素光源MHF-V501-SC在额定电压下点亮大量灯，灯丝到期前的时间呈正态分布，平均寿命是考虑到峰值时间和剩余速率达到50%的时间来确定的。

moritex卤素光源MHF-V501-SO紧凑、轻量、低价格配备各种安全功能符合环保型 RoHS 指令

moritex卤素光源MHF-V501紧凑、多功能、高性价比的50W卤素光源。 这是卤素光源系列中成本低、寿命最长的型号。