秋山科技(东莞)有限公司
中级会员 | 第6年

18922517093

大米相关设备仪器
光源设备
硬度计
配件/耗材
水质检测设备
陶瓷制品
试验机
粉碎设备
超声波设备
传感器
物理性能检测
其他设备
环境检测设备
气体检测设备
加热设备
电机
织物检测设备
食品检测设备
测量/计量仪器
电子/半导体行业设备
行业仪器

发射率测量仪器TSS-5X-3在遮盖力测试上的运用的重要性

时间:2025/2/7阅读:243
分享:

发射率测量仪器TSS-5X-3在遮盖力测试上的运用的重要性

反射率仪是一种利用光学原理进行材料反射率测量的仪器。其工作原理基于光线照射材料表面后的反射和透射现象。通过测量反射光和透射光的强度,可以得到材料在不同波长下的反射率曲线。这一过程是通过高精度的光学元件和灵敏的光电探测器实现的。

遮盖力测试是评估材料对光的吸收和阻挡能力的一种重要方法。在许多领域,如纺织品、涂料、玻璃等,遮盖力都是决定材料性能的关键因素之一。具体而言,遮盖力测试通过测量材料对光的吸收程度来判断其在不同光照条件下的透明度和遮盖效果,从而影响了材料的可见性、光学性能和实际应用。

image.png


TSS-5X-3发射率测量装置使您可以在室温下轻松测量样品的发射率。发射率值以数字方式显示,易于阅读且易于操作。

材料表面处理的定量差异

使用TSS-5X-3,您可以在室温下轻松测量发射率。
样品的发射率以数字方式显示,并且易于阅读,从而易于操作。


它被广泛用于空间,半导体,核能和其他领域,从研发到大众生产线。


特征

产品功能

  • 材料表面处理的定量差异

    了解发射率使您可以提高加热设备等的辐射效率,并设计材料,重点是散热和绝缘材料,这也可以用于节省能源。

    TSS-5X-3使用两个参考片(发射率0.06和0.97),它们具有预先知道的标准发射率,并允许在室温下进行易于测量而无需加热样品。

    它被广泛用于空间,半导体,核能和其他领域,从研发到大众生产线。

     

  • 测量原理

    样品反映了红外线,其中一些通过小孔进入半球形黑色身体炉的顶点。
    检测元件以恒定比率检测其能量。


规格和光路图

模型TSS-5X-3
测量方法使用红外检测的反射能量测量方法
测量波长2-22μm
测量范围发射率:0.00至1.00
准确性等级全尺度的±1%
测量区域φ15mm
测量距离12mm(使用检测头列的固定方法)
样品温度10-40°C(室温)
测量值显示LED数字显示(少数族裔的第二名)
输出0-0.1V,0-1V,全尺度
工作温度和湿度范围10-45℃,35-85℃(无凝结)
力量和力量AC100-240V,50/60Hz,30W *不包括电源线。请选择适合您规格的电源线。
维度和质量检测头部零件:φ51x 137lmm,0.6kg(带有3000Lmm机器人电缆)
测量零件:156h x 306W x 230dmm(不包括橡胶脚手柄等),5.0kg
配件发射率标准储物箱:84h x 238W x 185dmm,1.1kg
发射率标准储物箱:0.06(镜面),0.97(黑色身体)每件1件



会员登录

×

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

X
该信息已收藏!
标签:
保存成功

(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~
拨打电话
在线留言