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在线式胶片厚度检测仪FT-A200H/FT-A200HR介绍
FT-A200H/FT-A200HR 是一款高精度胶片厚度测量设备，专为高精度连续测量而设计。该设备配备了高精度测量头和放大器单元，能够直接从生产线上切取薄膜并进行实时厚度测量，确保产品质量和生产效率。
高精度测量：
采用高精度测量头和放大器单元，确保测量结果的准确性和可靠性。
测量分辨率高达 0.01μm，满足高精度需求。
连续测量：
支持从生产线上直接切取薄膜进行连续厚度测量，无需中断生产流程。
实时监控厚度变化，确保产品一致性。
宽测量范围：
FT-A200H：测量范围为 10μm 至 200μm。
FT-A200HR：测量范围为 3μm 至 100μm，适合更薄材料的测量。
用户友好设计：
操作简单，只需将薄膜放入设备即可自动测量。
配备直观的显示界面，方便用户查看数据和操作。
数据记录与分析：
自动记录测量数据，支持数据导出和进一步分析。
提供厚度分布图、统计报表等功能，便于质量控制和工艺优化。
| 参数 | FT-A200H | FT-A200HR |
|---|---|---|
| 测量范围 | 10μm 至 200μm | 3μm 至 100μm |
| 测量分辨率 | 0.01μm | 0.01μm |
| 适用材料 | 薄膜、胶片等 | 超薄薄膜、精密材料 |
| 测量速度 | 可调，适应生产线速度 | 可调，适应生产线速度 |
| 电源要求 | 220V AC, 50/60 Hz | 220V AC, 50/60 Hz |
| 设备尺寸 | 1200 x 800 x 1500 mm | 1200 x 800 x 1500 mm |
| 重量 | 约 150 kg | 约 150 kg |
薄膜生产：实时监控薄膜厚度，确保产品符合规格。
质量控制：检测厚度均匀性，防止生产缺陷。
研发与实验室：用于新材料和工艺的厚度测试与分析。
精密制造：适用于超薄材料的厚度测量，如光学薄膜、电子薄膜等。
定期校准：建议每三个月进行一次校准，以确保测量精度。
清洁测量头：定期清洁测量头，避免灰尘或杂质影响测量结果。
检查设备状态：定期检查电源、连接线和机械部件，确保设备正常运行。
避免在高温、高湿或粉尘较多的环境中使用。
操作时请佩戴防护装备，确保安全。
如需更换测量头或进行维修，请联系专业技术人员。
FT-A200H/FT-A200HR 是一款功能强大、精度高的胶片厚度测量设备，适用于薄膜生产和精密制造领域。其高分辨率、宽测量范围和连续测量能力，使其成为质量控制和工艺优化的理想选择。如需更多信息，请参考用户手册或联系供应商。
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