日本napson定义的电阻测量方法及原理

日本napson电阻测量原理

电阻测量的三个基本知识

• 电阻测量的定义
• 触点类型：4种探头法测量
• 非接触型：涡流法测量

电阻测量的定义

通常，电阻（电阻）用于评估物质或材料的电导率（导电性）。我认为以下Ω（Ohm）是电阻的评估标准（许多人在“欧姆定律”中都记得它）。

电阻_（电阻）=Ω[读数：欧姆]

⇒表示电流难易度的单位

R = V / I　* V =电压，I =电流

由数字万用表（绝缘电阻表）测量的绝缘电阻也通常以Ω单位表示。

电阻单位还根据物质或材料的形状而适当地使用，并且根据测量目标而主要使用，因为存在针对每个行业的工业标准（例如，JIS）的电阻单位。关于电阻的表示法是不同的。

除了电阻[Ω]，我们的电阻测量系统还支持以下两种类型的电阻测量单位：电阻[Ωcm]和薄层电阻[Ω/□]。

电阻=Ωcm[读数：欧姆厘米]

*也称为比电阻。

⇒物质的“体积电阻值”

它主要用于表示较厚物体的电阻，例如硅片，大块以及导电橡胶和塑料。

电阻：R的值由以下等式表示，其中ρ是电阻，L是导体的长度，A是导体的截面积。

R =ρ×[L / A]

因此，电阻值ρ由下式表示。

ρ= V / I×[A / L]

*当单位为Ωcm时，该值为1 cm x 1 cm x 1 cm的体积。根据测量目标的不同，它可能以Ωm（欧姆表）表示。

薄层电阻=Ω/□[读数：欧姆/平方]

*也称为比电阻。

⇒物质的“表面电阻值”

它主要用于表示片状材料（例如薄膜和膜状材料）的电阻。

触点类型：4种探头法测量

在这里，我们将介绍接触式电阻测量原理的概述（4探针法）（该原理的详细说明在材料中）。

（*对于我们的产品，还有一个系统会根据电阻范围使用不同的测量方法。）

四探针法主要用于接触式情况，可以测量1E-3（1m）到1E + 9（1G）Ω/□电阻范围。

这种测量方法是在广泛领域中测量电阻的基础。

●在四探针法中，将按照以下步骤进行测量。

（1）将四个针状电极直线地放在测量样品上。

（2）两个外部探头之间流过恒定电流。

（3）通过测量两个内部探针之间的电位差来计算电阻。

非接触型：涡流法测量

在这里，我们将介绍非接触式（涡流法）电阻测量原理的概况（该原理的详细说明在材料中）。

（*在我们的产品中，根据电阻范围，还有另一种非接触式电阻测量方法系统。请单击此处。请参考。此外，关于非接触式测量原理，除了涡流方法外，但很抱歉给您带来麻烦请联xi我们）

涡流法主要用于非接触式，可测量1E-3（1m）至1E + 4（10k）Ω/□电阻范围。

它可用于半导体，化合物半导体，液晶和新型碳基材料等广泛领域的测量。

涡电流测量系统使用电磁感应产生的涡电流来测量电阻。

非接触式测量探头单元的探头芯（磁性材料）在两侧（上下）以一定的间隙排列。

●在涡流法中，按照以下步骤进行测量。

（1）当在探针芯之间施加高频以产生磁通量并且插入样本时，样本中产生涡流。

（2）此时，（1）涡电流流过样品→（2）样品中消耗了电流，发生了功率损耗。

　→③电路中的电流成比例降低。检测该减小的电流值。

（3）由于检测到的电流值与样品的电阻成反比关系，请使用此值。

　座椅电阻或电阻是从电流值和座椅电阻的校准曲线（计算公式）得出的。

　　（*计算电阻时需要样品厚度信息）