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日本snk表面附着异物可视化技术

时间:2020-11-30阅读:183
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日本snk表面附着异物可视化技术

可视化技术,用于观察粘附在表面的细小颗粒,异物或污垢

细颗粒可视化技术可用于以高灵敏度检测光滑表面上的颗粒。另外,通过可视化由颗粒成分引起的荧光,可以每天处理表面异物和污垢。

如何使用散射光

高灵敏度细颗粒可视化技术是一种捕获移动的细颗粒的散射光的技术。使用相同的原理,可以以高灵敏度检测产品移动时表面上的异物和微弱的散射光。当使用激光时,它只能应用于光滑的产品,但是例如对于胶片,也可以通过可视化检测张紧的位置。

用散射光感应产品表面上粘附的颗粒
使用散射光感测表面异物

如何一起使用荧光

附着在表面的异物和污垢可能会使从该组件发出的荧光返回。为了澄清荧光色,有必要设计要照射的光,但是如果使用特殊的滤光片将散射光截断,则表面上的异物将非常鲜艳并且易于观察。无论表面光滑度如何,此方法都可以可视化是否有光到达。可以免费租用“ D Light”(约2天)。请借此机会尝试一下。

荧光色允许污染的荧光
使用荧光识别异物和污垢

利用表面粒子可视化技术的z佳解决方案

  • “ D Light”,一种工具,可以更容易地从表面的异物和污垢中看到荧光色
  • “ D Scope”是一种工具,可以捕获细颗粒的各种信息,并通过捕获弱荧光将其转换为数据。
  • “ Parallel Eye F”是一种相对容易设置在要可视化的表面上的光源。
  • 可视化宽而光滑产品表面的z佳光源是“ Parallel Eye H”。
  • “ Parallel Eye D”是可视化不平坦表面并使荧光更加突出的z佳光源。
  • 具有于微粒检测的灵敏度和功能的超高灵敏度相机是的超高灵敏度相机“ Eyescope”。
  • 图像处理软件包“ Particle Eye”,用于在计算机上实时图像处理和视频记录
  • 当您要使用细颗粒可视化系统处理制造环境中的紧急问题时,可以提供现场评估服务
  • 在产品开发和公共关系等地点使用细颗粒可视化系统时的产品开发/公共关系支持服务

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