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133次可视化加热产生的空隙和裂缝设备-日本热成像范围TSI
提高能源效率是节约能源的重要主题。着眼于电子设备的功耗问题，该设备可以通过可视化和量化设备内部的热特性来评估接口的热扩散率。此外，钻石和DLC的导热系数高以节省能源，因此备受关注，但是评估允许热量从其界面逸出的导热系数非常重要。此外，据说这些物质之间的界面的粘附性影响性能。该装置旨在评估热量对界面的附着力。
| TSI-2 | |
基本表现 | 测量目标 | 样品缺陷，异质性，红外辐射，简单的温度，热性质 |
输出数据 | 频率，距离，幅度，相位，亮度，图像数据 | |
分析模式 | 点/区域分析，相位分析 | |
附上其他 | 温度调制加热器，控制/分析软件，PC | |
测量环境 | 温度 | 室温〜250 [℃] |
测量频率 | 0.1-10 [Hz] | |
红外热像仪 | 元素数 | 336 x 256 |
元素类型 | VOx微测辐射热仪 | |
像素大小 | 17 [微米] | |
观察波段 | 7.5至13.5 [μm] | |
帧率 | 30 [Hz] | |
解析度 | 约30 [μm] | |
半导体激光器（连续振荡） | 波长 | 808 [纳米] |
z大输出 | 5 [W] | |
正弦波调制 | 0.1至30 [Hz] | |
舞台动作范围 | 水平（XY轴）方向 | ±15 [毫米] |
垂直（Z轴）方向 | +50 [mm] | |
电源 | AC100-240 [V]，10-5 [A]，50/60 [Hz] | |
设备主体 | 外形尺寸 | 宽552 x深602 x高657 [mm] |
重量 | 76.5 [公斤] | |
激光安全标准 | CLASS1，IEC / EN 60825-1：2007 | |
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