陈霞
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当前位置：秋山科技（东莞）有限公司>>物理性能检测>>膜厚计>> Handy Lambda Ⅱ Thickness日本spectra USB简易膜厚测量装置 测厚仪
| 测量范围 | 1 | 产地 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 类型 | 数字式 |
日本spectra USB简易膜厚测量装置Handy Lambda Ⅱ Thickness
由于光照射在透明或半透明的薄膜上，并且根据光的光谱信息计算薄膜厚度，因此作为一种在不损坏样品的情况下具有良好再现性的测量方法而备受关注。
由于样品是用光纤照射的，因此可以从任何位置在线使用。
当与致动器结合使用时，也可以进行简单的映射膜厚度测量。
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硅、氮化硅、氧化硅
粘合剂、涂料
染料膜、油膜、彩色滤膜
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光刻 胶
介电膜、金属氧化膜
紫外光固化树脂
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光盘、中药、光盘
聚合体
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日本spectra USB简易膜厚测量装置Handy Lambda Ⅱ Thickness
| 型 | 方便的λII.厚度 | 实心氧厚度 |
|---|---|---|
| 测量膜厚度范围 | 50纳米-20微米 | 50纳米-100微米 |
| 薄膜厚度显示分辨率 | 0.001微米 | 0.001微米 |
| 测量重复性 | 0.01μm以下 | 0.01μm以下 |
| 接口 | USB2.0 | USB2.0 |
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