陈霞
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当前位置：秋山科技（东莞）有限公司>>光源设备>>色差仪>> 日本bunkoukeiki单色仪M10 光学测量仪
日本bunkoukeiki单色仪M10
紧凑、轻便、明亮的高分辨率单色仪，焦距为 100mm。
分辨率为 1.0 nm（1200 线/毫米），波长精度为 ±1.0 nm，具有同类产品中最佳的性能。
由于衍射光栅可以更换，因此可以在200 nm至25 μm的宽波长范围内使用，并且更换安装再现性也良好。
光学系统采用宽有效面积的衍射光栅，F=3.0时明亮，像差小。
机构和操作简单且坚固，因此耐冲击和振动，并且狭缝机构几乎没有间隙，因此可以进行高精度测量。
由于入口狭缝和出口狭缝布置在相对侧，因此很容易组合其他光学系统和特殊附件，并且可以创建满足预期用途的分光系统。
通过安装步进电机波长驱动器（选件），可以通过外部脉冲信号或GP-IB进行控制。
由于同时发射波长范围较宽，可以安装多通道检测器（选件）。
结构紧凑、重量轻，不占用大量安装空间。它也很容易携带。
日本bunkoukeiki单色仪M10
| 光学系统 | 非对称改良 Zernii-Turner 安装系统 |
| 焦距 | 100毫米 |
| 孔径比 | F=3.0 |
| 衍射光栅 | 标线有效面积28×28mm |
| 光波长范围 | 200-1400nm |
| 机械波长范围 | 0-1400nm |
| 解决 | 1.0nm（半宽） |
| 波长扫描法 | 正弦杆机构/波长线性扫描 |
| 波长驱动方式 | 步进电机驱动 |
| 波长精度 | ±1.0nm（从正向设定） |
| 波长显示 | 计数器显示最小1nm，最小刻度0.2nm |
| 波长重现性 | ±0.5nm（从正向设定） |
| 杂散光 | 1×10 -3以下（ λ 0 ±10 nm ，λ 0 =546.1 nm ） |
| 输入/输出狭缝 | 宽度：0至4毫米（双开口对称连续变量/最小刻度读数0.01毫米） |
| 筛选 | 手动滑动方式（最多可安装6种）*UV/IR选项 |
●本体（不含衍射光栅）
●可见光滤光片（L-37・R-64）
●滑动滤光片支架
●滑动高度V型光圈
●使用说明书
| 雕刻线数 | 闪耀波长 | 倒数方差 |
|---|---|---|
1800线/毫米 | 250、400、500 纳米 | 5纳米/毫米 |
1200线/毫米 | 200,300,400,500,750nm,1.0μm | 8纳米/毫米 |
600线/毫米 | 200、300、500、750nm、1.0、1.6μm | 16纳米/毫米 |
400线/毫米 | 400,550,850nm,1.6μm | 24纳米/毫米 |
300线/毫米 | 300,500nm,1.0,2.0,3.0,4.0μm | 32纳米/毫米 |
150线/毫米 | 300,500,800nm,1.25,2.0,3.0,4.0,6.0,8.0μm | 64纳米/毫米 |
120线/毫米 | 3.75、8.3μm | 80纳米/毫米 |
60线/毫米 | 16微米 | 160纳米/毫米 |
*光栅是可选的。请定一个。
如需其他衍射光栅，请联系我们。
*倒数色散随波长而变化。
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