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详细摘要： LED驱动电源老化系统技术规格书（电脑监控型FYD-BIC192）一、老化柜名称：电源老化柜二、老化柜型号：FYD-BIC192三、老化数量：192PCS四、老...

详细摘要： 冲击试样低温仪（CDW-80-05）一、概述CDW-80-05型冲击试样低温仪是本公司根据GB229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对低温装置的要求而研...

详细摘要： 冲击试样低温仪（CDW-80-7）一、概述CDW-80-7型冲击试样低温仪是本公司根据GB229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对低温装置的要求而研制开...

详细摘要： 冲击试样低温仪（CDW-80-16）一、概述CDW-80-16型冲击试样低温仪是本公司根据GB229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对低温装置的要求而研...

详细摘要： 冲击试样低温仪（CDW-80A-30）一、概述CDW-80A-30型冲击试样低温仪是本公司根据GB229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对低温装置的要求...

详细摘要： A.采用智能温度调节仪,四位数字显示,分别显示设定和测量值,保证控温品质优良；B.控温精度高,温度均匀性好；C.具有上限超温报警及超温保护功能；D..换气量大且...

详细摘要： 一、概述换气式老化试验箱是我厂研制的空气热老化试箱系列产品（以下简称老化箱），其性能指标符合JB/T7444-94标准，符合GB/T7141-92塑料热空气暴露...

详细摘要： 该老化试验箱主要是针对电子、电工产品，以及其原器件和其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验

详细摘要： 该热老化试验箱主要是针对电子、电工产品，以及其原器件和其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验

详细摘要： 老化箱|热老化试验箱|老化试验箱|高温老化试验箱该热老化试验箱主要是针对电子、电工产品，以及其原器件和其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验

详细摘要： 该蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、...

详细摘要： PCT-400高压蒸煮试验仪一、PCT-400高压蒸煮仪用途：1、测试IC半导体、LCD、PCB板、磁铁等产品的封装工艺、密封工艺耐湿耐压的能力；2、试品被置于...

详细摘要： 该蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、...

详细摘要： Z-UV紫外灯耐候试验箱本仪器参照GB/T14522-93《中华人民共和国国家标准-机械工业产品用塑料、涂料、橡胶材料-人工气候加速试验方法》及ASTMG154...

详细摘要： 适用范围：高低温箱适用于电工、电子产品、元器件及其它材料在高低温环境下储存、运输、使用时的适应性试验

详细摘要： 液氮制冷高低温试验箱技术规格书一、液氮制冷高低温试验箱的用途：1、适用于电子试验机、液压试验机、电液伺服动静试验机等

详细摘要： 拉力机配套的液氮制冷高低温试验箱技术规格书一、液氮制冷高低温试验箱的用途：1、适用于电子试验机、液压试验机、电液伺服动静试验机等

详细摘要： 拉力机配套的液氮制冷高低温试验箱技术规格书一、液氮制冷高低温试验箱的用途：1、适用于电子试验机、液压试验机、电液伺服动静试验机等