详细摘要： 可程式高低温试验箱TLP系列适用于电子电工产品、仪器仪表、原材料、电子元件等高低温适应性试验、低温恒温及储存；

详细摘要： TS系列冷热冲击试验箱温度波动度：±0.5℃ 温度偏差：≤2℃ 转换时间：≤15秒

详细摘要： 无尘烘箱TM系列全周氩焊，耐高温硅胶迫紧，SUS304＃不锈钢电热产生器，防机台本身产生微尘；

详细摘要： 高温高湿试验箱H-80温度范围：RT 20～℃温度波动度：±0.5℃ 温度均匀度：±2℃

详细摘要： 恒温老化柜ORT系列是半成品、成品类借着BURN-IN（预烧）来移除早期失效不合格之零组件产品，而使产品进入市场后可靠性相对提高

详细摘要： 可程式恒温恒湿试验箱THP系列已在各大领域立足并将一如既往的打造更为优良的可程式低温恒温恒湿试验箱来满足各行各业对本可程式低温恒温恒湿试验箱的需求。

详细摘要： 恒温老化柜ORT1125适用于LCD、LED、开关电源，电源适配器，显卡等电工电子产品之高温老化。老化柜分为负载区及电源老化区。

详细摘要： 恒温老化室ORT-5库体系统：采用双面彩钢岩棉保温夹心板在现场组装而成，固定支撑铝材衡量，铝型材版包边。结合处打玻璃胶密封。

详细摘要： 步入式恒温老化房ORT-35控制系统：高精度双极PID调节，固态继电器输出，欧姆龙高精度数显温度控制器，显示精度：0.1℃，标准控制箱。

详细摘要： 恒温老化房系列采用*成熟的技术和设备，满足客户当前的需要，并兼顾未来产品的需求，尽可能的采用稳定、实用的组件和材料。

详细摘要： 高温老化箱ORT1120L是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

详细摘要： 恒温老化房ORT-40 温度控制准确，精度高。由于采用了*的风道系统设计及电控系统，能保持整个房间温度高度均匀性，大大高于同类产品。

详细摘要： 恒温老化房ORT-44房体结构：老化房房体结构一般采用保温板（EPS彩钢板或岩棉板）在现场拼装而成，房间尺寸均根据客户要求设计。

详细摘要： 大型恒温老化室ORT-12高温老化室内设定温度范围广，在常温~80℃范围内可任意连续可调。

详细摘要： 恒温老化室ORT-12*的风道系统设计及控制系统，能保持整个柜内温度均匀，控制准确，精度高。

详细摘要： 高温老化房ORT-40采用高精度数显温度控制仪，PID调节，配置超温、过载等多重保护功能

详细摘要： 步入式老化房ORT-99又叫烧机房，是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备