光腔衰荡光谱测量系统（ppm级超高精度反射率测量）

光腔衰荡光谱方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一种基于高精细度谐振腔的高灵敏度探测技术，主要用于测量各种反射率大于99%的超高反射率反射镜的反射率，测量精度可达百万分之一量级！

光腔衰荡光谱方法通过对指数型的腔内衰荡信号的检测，摆脱了激光能量输出的起伏所引起的误差。由两片99.99% 反射率组成的光腔对损耗的测量精度可达ppm量级。

应用领域：

高反射镀膜层损耗的精密测量

正入射反射率R>>99%的平面或凹面光学元件的损耗测量

精度dR/R<2ppm @="" r="">99.5%

检测用激光波长可选（如≥355nm…532nm…633nm…1064nm…≤1319nm）

测量原理：

脉冲光或快速开关的连续光耦合进谐振腔

待测膜层在每次往返光程中经反射产生损耗

的输出信号的测量得到衰荡数据

脉冲光往返时间已知，根据衰荡的时间特点，得到反射率

技术指标：

测量反射率：    R>>99%

精度：              dR/R < 2ppm="" @="" r="">99.5%

样品/基底要求^*：  ø1"Or 0.5", 厚度~6mm

基底透明，后表面平面抛光

*0^o正入射测量，其他要求可订制。

供电电源：

激光器              100~240VAC, 50~60Hz

探测器              +/-9 VDC

接口：              USB 2.0

含数据采集， A-D转换，数据处理等模块。软件包括反射率分析、生产数据录入及处理等。