膜厚测量仪,膜厚测量仪价格|报价-上海昊量光电设备有限公司

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多波长椭偏仪/膜厚测量仪

详细摘要： Film-Sense多波长上海昊量光电推出的多波长椭偏仪采用长寿命的LED光源，可分别提供405nm、450nm、465nm、525nm、595nm、635nm...
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-14 在线留言
Mprobe 20-台式膜厚测量仪

详细摘要： Mprobe20单点薄膜测量仪MProbe20是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统，只需点击鼠标就可进行薄膜厚度和折射率测量，测量厚度范围1nm-1mm
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-13 在线留言
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC（弯曲表面）

详细摘要：手持式膜厚测量仪-MProbe20HC（弯曲表面）手持式膜厚测量仪-MProbe20HC（弯曲表面）基于MProbe20平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度...
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-13 在线留言
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP

详细摘要：微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE40MSPMProbe40测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-13 在线留言
膜厚测量仪（厚度范围1nm~1.8mm）

详细摘要：美国Semisonsoft膜厚测量仪MProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美国Semisonsoft公司M...
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-13 在线留言
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU

详细摘要： MPROBE50INSITU–实时薄膜厚度测量仪原位薄膜厚度测量仪-MPROBE50INSITU用于测量薄膜厚度和n原位薄膜厚度测量仪-MPROBE50INSI...
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-13 在线留言
薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60（mapping测量）

详细摘要：薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE60（精确定位测量）MProbe60是一站式系统，专为研发中心和小型制造而设计
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-13 在线留言
半导体/薄膜无损检测仪

详细摘要：薄膜无损检测系统，半导体无损检测系统l产品特点系统使用获得zuanli的光声技术设计无损测量系统
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在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70

详细摘要：在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE70在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE70是一种高性能厚度测量系统
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-13 在线留言
激光干涉膜厚测量仪

详细摘要： Xper-IP激光干涉膜厚测量仪Xper-IP是基于公司的光谱干涉技术的一款激光干涉膜厚仪，是一种非接触式、无损的、且快速的光学薄膜厚度测量设备
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-13 在线留言
非接触式金属膜厚测量仪

详细摘要：非接触式金属膜厚测量仪昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层膜厚测量的非接触式金属膜厚测量仪EddyCusTFSeries，这款金属膜厚测量仪可以非接触式实时测量...
产品型号：所在地：更新时间：2024-02-02 在线留言