产品展厅收藏该商铺

您好 登录 注册

当前位置:
上海昊量光电设备有限公司>>光学检测设备>>膜厚测量仪>>膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)

膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)

返回列表页
  • 膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)

收藏
举报
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 厂商性质 经销商
  • 所在地

在线询价 收藏产品 加入对比

更新时间:2024-02-13 16:03:29浏览次数:26

联系我们时请说明是环保在线上看到的信息,谢谢!

产品简介

美国Semisonsoft膜厚测量仪MProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃级分辨率,非接触式无损快速测量

详细介绍

美国Semisonsoft膜厚测量仪

MProbe - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY


美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃级分辨率,非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中,比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层,触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。


测量原理:当波长范围的光照射到薄膜上时,从不同界面上反射的光相位不同,从而引起干涉导致强度相长或相消。而这种强度的振荡是与薄膜的结构相关的。通过对这种振荡拟合和傅里叶变换就可获得样品厚度和相关的光学常数。



比如:

半导体(硅,硅,多晶硅)

半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS)

微电子机械(MEMS)

氧化物/氮化物

光刻胶

硬涂层(碳化硅,类金刚石炭)

聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

高分子聚合物


MProbe膜厚测量仪操作简单,只需一键操作即可获得样品的厚度、折射率(n, k)和表面粗糙度等信息,膜厚测量设备可支持不同光谱范围,光谱范围可达200-1700nm,因此可测量厚度范围可从1nm到2mm。 设备中无移动组件,所以测量结果几乎是即时得到的;TFCompanion测量软件使得测量过程非常简单且透明,测量历史、动态测量、模拟、颜色分析、直接在样品图像上显示结果。


分类:

1、单点膜厚测量——MPROBE-20
2、单点手持膜厚测量——MPROBE HC
3、聚焦光斑膜厚测量仪——MPROBE 40
4、原位测量膜厚测量仪——MPROBE 50 INSITU

5、支持Mapping的聚焦膜厚测量仪——MPROBE 60


6、在线膜厚测量仪——MProbe 70


收藏该商铺

登录 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~

对比框

产品对比 二维码 意见反馈

扫一扫访问手机商铺
在线留言