X荧光测厚仪

X荧光测厚仪性能优势：

精密微型滑轨：精密的手动移动平台，快速准定位所需检测的样品。

EFP*算法软件：可检测单镀层，多镀层，多元合金，甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析，包括轻金属镀层，非金属镀层，达克罗，Nip镀层测试，包括Ni与P的比例也均可检测。

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片电动切换，满足各种测试方式的应用。

新一代高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率。

高效的散热系统：对流通风过滤式风冷，仪器即便全天候开启，都可保持恒温恒效。

X荧光测厚仪技术参数：

测量元素范围：CI(17)-U(92)

涂镀层分析范围：CI(17)-U(92)

分析软件：EFP，可同时分析5层镀层，10种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析

X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦射线管

接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm²

射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器

滤光片：铝、空、镍

准直器：ø0.5mm

近测距光斑扩散度：10%

小测量面积：约0.04mm²

对焦方式：高敏感镜头（无需增加其他辅助传感器），手动对焦