详细摘要： 光谱测厚仪环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%

详细摘要： X荧光测厚仪分析软件：EFP，可同时分析5层镀层，10种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析

详细摘要： XTD（B）镀层测厚仪自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦。变焦装置算法：可对大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。

详细摘要： 镀层测厚仪于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

详细摘要： 能量色散X荧光光谱分析仪搭配微聚焦X射线发生器和*的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试极微小和异形样品。

详细摘要： 光谱分析仪变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm，微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01m...

详细摘要： XAU-4CS光谱分析仪*的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。

详细摘要： XTU-50A X荧光光谱仪射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器视频观测光路系统：垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头

详细摘要： XTU-A X荧光光谱仪高效率的接收器：在检测0.01mm²以下的样品时，几秒钟也可达到稳定性。下照式设计：快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试...

详细摘要： XTU-4C X荧光光谱仪接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm²射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器

详细摘要： XTU-BL X荧光光谱仪无损变焦检测：拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。

详细摘要： 荧光光谱仪核心EFP算法：Al（13）-U（92）元素的成分分析，Li（3）-U（92）元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精测量