简介：
双式膜厚计LZ-373是一款中型双膜测厚仪，具备电磁感应和涡流探头，广泛应用于测量磁性材料上的非磁性涂层和非磁性金属上的绝缘涂层。该测厚仪具有广泛的测量范围和高精度测量能力，支持数据存储和统计计算功能。

主要特点：

1. 双式测量方法：双式膜厚计LZ-373采用电磁感应和涡流组合型测量方法，适用于不同类型的涂层和金属材料测量。

2. 宽泛测量范围：电磁感应型测量范围为0~2500μm或99.0mils，涡流型测量范围为0~1200μm或47.0mils。

3. 高精度测量：测量精度在50μm以下为±1μm，在50μm以上且1000μm以下为±2%，1000μm以上为±3%。

4. 数据存储与统计计算：膜厚计具有大约39,000个点的数据内存，并支持统计计算功能。

5. 多种兼容标准：双式膜厚计LZ-373兼容多种标准，如JIS、ISO、BS和ASTM标准。

6. 方便实用的设计：该测厚仪采用数字式显示，带背光LCD，最小显示位数为0.1μm。支持外部输出连接计算机，具备便携包和长达100小时的电池寿命。

技术规格：

• 测量方法：电磁感应/涡流组合型

• 测量目标：磁性材料上的非磁性涂层和非磁性金属上的绝缘涂层

• 测量范围：电磁感应型0~2500μm，涡流型0~1200μm

• 测量精度：50μm以下为±1μm，50μm以上且1000μm以下为±2%，1000μm以上为±3%

• 解决能力：100μm以下为0.1μm，100μm以上为1μm

• 兼容标准：电磁感应型兼容JIS、ISO、BS和ASTM标准，涡流型兼容JIS、ISO、BS和ASTM标准

• 数据存储器数量：约39,000个点

• 外部输出：计算机（USB或RS-232C）

• 电源：电池1.5V（AA碱性）x 4

• 工作温度限制：0～40℃

• 尺寸/质量：75（宽）×145（深）×31（高）毫米，0.34千克

附件和选项：
附件：标准板（10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm）、标准板盒、铁底座（FE-373）、铝底座（NFE-373）、探头适配器、便携包、电池1.5V（AA碱性）x 4
选项：可选标准板、测量支架LW-990、计算机电缆、RS-232C-USB电缆、数据管理软件：“Data Logger LDL-03"

结语：
双式膜厚计LZ-373是一款高精度薄膜测厚仪，具备电磁感应和涡流组合型测量方法，可测量磁性材料上的非磁性涂层和非磁性金属上的绝缘涂层。该测厚仪具有广泛的测量范围、高精度测量能力和数据存储统计计算功能，满足各种标准要求。便携设计和多种附件和选项使其易于操作和使用，适用于工业领域的薄膜测厚应用。