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COMPACT 镀层测厚仪

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更新时间:2022-08-22 15:12:12浏览次数:137次

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镀层测厚仪COMPACT系列,广泛应用于PCB、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析及镀液分析;是中、小电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具

镀层测厚仪COMPACT系列,广泛应用于PCB、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析及镀液分析;是中、小电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。

镀层测厚仪COMPACT系列具有,有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量精准、测量时间短等特点;具有高生产力、高再现性,能有效控制产品质量,节约电镀成本。


仪器参数

型号

COMPACT Eco

COMPACT Eco PIN

备注

测量元素范围

Ti22---U92

镀层和成分分析

镀层:最多同时测定5层(4层镀层+基体材料)

成分:最多同时测量20种元素

测量方法

FP(经验数据法),无需标准样片

X射线激发

50Kv1.2mA(60W)高压发生器

微聚焦WX射线管

成像系统

彩色视频系统

20倍放大倍数

被测样品图像实时显示功能

电脑显示屏具有画中画功能

计算机系统

Inter Pentium G2030,内存2G,硬盘500G

17吋液晶彩色显示器

MicrosoftTM Win7 32bit

样品台规格

240×240mm样品台

承重5Kg

仪器外形

长×宽×高400×600×400mm(不含电脑、显示器)

样品

长×宽×高380×370×100mm

程控Z轴移动距离

60mm

主机重量

41Kg(不含电脑、显示器)

单准直器规格

Ø0.3Ø0.5mm

Ø0.1Ø0.3Ø0.4Ø0.5mm

0.1×0.3mm

仅配单准直器

探测器

正比例计数器

25mm2半导体(Si-PIN)探测器,Peltier电制冷

能量分辨率约270eV

软件模块可选

μ-Master用于镀层测量

Element--Master用于材料分析

%-Master用于材料分析(珠宝)

Report-Master用于微软报告文件

Data-Master用于数据库管理

Liquid-Master用于电镀液分析

产地

德国



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CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接

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