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CIT-2000SM X射线荧光分析仪 X射线仪器

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更新时间：2023-12-12 09:05:52浏览次数：328次

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产品简介

技术指标参数技术指标分析元素Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等元素含量分析范围2-20Ke分辨率13%样品用量10克样品粒度120目以上稳定性0.002检测时间2分钟分析误差﹤1.0%整机功耗150W工作环境温度温度0-40℃样品温度＜70℃应用范围　适用于各有色、黑色矿山、选矿厂、质检站、水泥厂、陶瓷厂、玻璃厂等化验室

详细介绍

技术指标

参数	技术指标
分析元素	Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等
元素含量分析范围	2-20Ke
分辨率	13%
样品用量	10克
样品粒度	120目以上
稳定性	0.002
检测时间	2分钟
分析误差	﹤1.0%
整机功耗	150W
工作环境温度	温度0-40℃
样品温度	＜70℃