LEICA EM TXP精研一体机 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EMTXP,这些工作就可轻松完成。

在Leica EM TXP之前，针对目标区域进行定点切割，研磨或抛光等通常是一项耗时耗力，很困难的工作，因为目标区域极易丢失或者由于目标尺寸太小而难以处理。使用LeicaEMTXP，此类样品都可被轻易处理完成。

另外，借助其多功能的特点，Leica EM TXP也是一款可为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的*效的前制样工具。

LEICA EM TXP精研一体机 可对样品进行：铣削、切割、研磨、抛光、冲钻处理。可实现精.确的目标定位：

在显微镜辅助观察下，通过精密移动工具来帮助你实现。

如移动锯片到接近目标位置进行切割;然后不用取下样品，直接将锯片更换成研磨片对目标位置进行快速研磨;当快接近目标位置，可以采用Count down倒计数功能，自动研磨厚度(2 um)，或后采用Count down倒计时功能，自动抛光。

得益于精密机械控制部件，样品加工工具步进精度小可达0.5um。

LEICA EM TXP具备准确的角度校准。

在显微镜辅助观察下，通过角度校准适配器帮助你实现对样品角度的微调。

角度校准适配器固定在样品夹具和样品悬臂之间，可以实现水平方向和垂直方向分别士5°角度微调。