高对比度分辨力测试卡 返回列表页

高对比度分辨力测试卡

分辨率测试卡，致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。空间分辨率线对卡定制生产厂家：廊坊玉双仪器设备有限公司，产品销售编号：20230204-02。

分辨率

图像中恰好能分开的细节之间的距离;通常用单位宽度范围内可识别的线对数表示,单位是每毫米线对数(LP/mm)。

调制传递函数

描绘输出信息量与输入信息量变化关系的响应函数,是成像系统对输入信息的传递和转换功能。主要反映的是影像信息的再现率。

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm

图案布局：T型 （3-10μm）

I 型 （15-50μm）

线/空间尺寸：16种规格图案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

线对卡是对X射线的成像进行分辨力进行测试的装置，该装置通过其本身带有的不同的线对对X射线的成像的图像进行检测，把线对卡至于X射线影像设备之下进行曝光成像，然后观察图像能够显示出多少个线对的数量作为衡量射线设备的分辨力能力时候满足日常检测的分辨率的需要。离射线源较近一侧的表面上,按照一定的工艺条件进行透照,经暗室处理后在底片上能够观察到几组黑白相间的栅条影像,则该组线对所对应的线对数即为底片(或照相系统)的分辨率。高对比度分辨力测试卡