赛默飞增强型锁相热发射显微镜在半导体领域的应用
♦ ELITE (增强型锁相热发射显微镜) ,锁相热发射显微镜如今已成为高等电性故障分析流程中的技术手段。有缺陷的或表现不佳的半导体器件...
上海百贺仪器科技有限公司
JEOL JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜配备了加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案.
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