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ELECTRONICA激光扫描仪Q6-B

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产品简介

产品介绍QuellTech激光扫描仪利用三角测量原理来检测表面的二维轮廓

详细介绍

产品介绍

QuellTech 激光扫描仪利用三角测量原理来检测表面的二维轮廓。通过特定的光学组件，点状激光束被扩展为一条线并投射到感兴趣的对象上。反射激光线的漫射光被物镜以一定角度捕获，然后导向二维接收芯片。

根据已知的距离和角度，为 x 水平（激光线）中的每个像素计算准确的校准高度值 (z)，从而在样本的 x-z 平面中产生准确的轮廓。如果扫描仪在样品（y 轴）上引导，则会创建一系列轮廓，在空间中形成三维点云。该点云可以通过软件进行尺寸控制。

性能特点

分辨率低至24 µm
用于非常有光泽的材料的特殊算法
不同的高动态范围 (HDR) - 反射率差异很大的物体的模式
反射率差异很大的物体的多斜率模式
不同的触发方式，2个触发输入（编码器输入RS422）
在芯片上设置多个测量窗口
自动跟踪测量窗口
多扫描仪应用的主从配置
存储在激光扫描仪中的用户配置
在制造商现场单独进行极其准确的校准
带防护系统 IP67 的外壳
*GenICam 和 GigEVision 接口标准，用于连接已知的图像处理软件工具
软件开发工具包
图像处理软件

技术参数

扫描仪类型：50-178

Z范围： 50 mm

X 起点范围：165 mm

X 中间范围（标称）：178 mm

X 端范围：190 mm

距离Z- 起点范围：123 mm

工作距离Z-中间范围：148 mm

X分辨率：86.91μm

Z分辨率：2.13μm

产品应用

锡膏用量监督

连接器的销直线度测量

表面凸度测量

间隙测量和控制

尺寸稳定性的在线检测

食物分份

铁路用钢轨型材检验

飞机襟翼和副翼的角度设置

印刷电路的检查

产品参数

关键词：芯片

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