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ESCALAB 250Xi X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针

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更新时间:2023-05-11 09:04:27浏览次数:174次

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产品简介

ESCALAB 250Xi X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针

详细介绍

产品详情简介
利用结合了高灵敏度与高分辨率定量成像和多技术能力的 Thermo Scientific™ ESCALAB™ 250Xi X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针满足您更高的分析性能和灵活性要求。
 

描述

配备为提供 XPS 性能而设计的单色化X射线源,确保ESCALAB 250Xi X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针有的样品测试通量。多技术能力、一系列灵活的样品制备室及样品处理设备,使该仪器在解决任何表面分析问题时都能游刃有余。利用*的 Avantage 数据采集和处理系统,从测试数据中挖掘尽可能多的信息。
ESCALAB 250Xi X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针的特点:
高灵敏度能谱
小面积 XPS
深度剖析能力
角分辨 XPS
标配离子散射能谱 (ISS)功能
标配反射电子能量损失谱 (REELS)功能
标配“样品预处理”室
多技术分析的多功能性
多个样品制备技术可选
全自动无人值守式分析
多样品分析

单色化X射线源
双晶体微聚焦单色器配备一个 500 mm 直径的罗兰圆,使用铝阳极靶
样品 X 射线光斑尺寸可选择范围为 200 至 900 μm

透镜、分析仪和检测器
透镜/分析器/检测器一体化使 ESCALAB 250Xi XPS 能谱仪同时具备成像和小面积 XPS 分析能力的性
两种类型的检测器可以确保为每种分析提供检测——二维检测器用于成像,基于通道电子倍增器的检测器则用于需要检测高计数率的能谱分析
透镜配备了两种电脑控制的光阑组件,一套视场光阑用于控制低至 <20 μm 的分析区域,适用于小面积分析;另一套光阑则用于控制透镜的接收角,对于高质量角分辨 XPS 至关重要
180° 半球型能量分析器

深度剖析
数控式 EX06 离子枪是一款高性能的离子源,哪怕在使用低能离子源时也有着很好的性能
提供方位角样品旋转
多技术能力
可配备其他分析技术而不降低 XPS 检测性能
使用 EX06 离子枪时透镜组和能量分析仪的电源可反向(确保离子散射能谱 (ISS) 可用)
电子枪可加压升至 1000 V,为 REELS 提供优异的离子源

技术选项
非单色化 X 射线光源的XPS分析
AES(俄歇电子能谱)
UPS(紫外光电子能谱)

真空系统
5 mm 厚高导磁金属分析室,提高磁屏蔽效率
与使用内部或外部屏蔽的方法相比,屏蔽效能更佳

样品制备
系统标配一体化的快速进样室和制备室
额外的制备室可选
Avantage 数据系统
集成了测试分析的所有方面,包括仪器控制、数据采集、数据处理和报告生成
允许远程控制,并且可轻松与第三方软件交互(例如 Microsoft Word)
管理从样品载入到报告导出的整个分析过程


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