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表面粗糙度·轮廓测量仪SV-C3200/C4500

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产品型号SV-C3200/SV-C4500

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更新时间：2022-12-19 16:17:11浏览次数：224次

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上海洛丰精密检测仪器有限公司

经营模式：其他

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产品简介

表面粗糙度测量功能高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。X轴内置高精度玻璃光栅尺，直接读取X轴移动距离，在高精度精准定位下，完成间距参数的评价。检出器测力有4mN和0.75mN可选。轮廓测量功能Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新

详细介绍

规格：

货号		SV-C3200S4	SV-C3200H4	SV-C3200W4	SV-C3200S8	SV-C3200H8	SV-C3200W8
		SV-C4500S4	SV-C4500H4	SV-C4500W4	SV-C4500S8	SV-C4500H8	SV-C4500W8
? 测量表面粗糙度时
测量范围	X轴(驱动部）	100mm			200mm
	Z1轴(检出器）	800μm/80μm/8μm
直线度		(0.05+L/1000)μm L:驱动长度(mm）			0.5μm/200mm
分辨力	Z1轴(检出器）	0.01μm ( 800μm ) , 0.001μm ( 80μm ) , 0.0001μm ( 8μm
测力		0.75mN ( 机身代码末尾带 "-1" 的型号 )
		4mN (机身代码末尾带 "-2" 的型号）
测针针尖形状		60o, 2μmR ( 机身代码末尾带 "-1" 的型号 )
		90o, 5μmR ( 机身代码末尾带 "-2" 的型号）
对应尺寸		JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
评价参数		Pa,Pq,Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,Pq,Pmr(C),Pmr,Pc,Ra,Rq,Rsk,Rku,Rp,Rv,Rz,
		Rt,Rc,RSm,Rq,Rmr(C),Rmr,Rc,Wa,Wq,Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,Wq,
		Wmr(C),Wmr,Wc,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,Wx,AW,W,Wte,Ry,RyDIN,
		RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,Ir,a,a,q,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW
评价轮廓		原始轮廓、粗糙度轮廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、滚动圆波形原始轮廓、滚动圆波形轮廓、包络残余线、 DF 轮廓 ( DIN4776 / ISO13565-1 ) 、表面粗糙度 MOTIF(包络波纹轮廓在评价 MOTIF 时显示）

分析图		负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、 Walsh 功率谱、 Walsh 自相关、分布、倾斜角分布、参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的原始分析）

曲线补偿		最小平方直线、 R 面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双曲线补偿、二次曲线补偿、多项式补偿 ( 自动或任意 2~7 次 ) 、无补偿

曲线补偿		高斯滤波器 , 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 鲁棒样条滤波器
? 轮廓测量
测量范围	X轴(驱动部）	100mm			200mm
	Z1轴(检出器）	60mm ( 测臂水平位置 ±30mm
直线度		0.8μm/100mm			2μm/200mm
精度	X轴(驱动部)
	Z1轴(检出器）	SV-C3200系列:±(1.6+\|2H\|/100)μm,SV-C4500系列:±(0.8+\|2H\|/100)μm
		H: 水平位置上的测量高度 ( mm )
分辨力	X轴(驱动部）	0.05 μm
	Z1轴(检出器）	SV-C3200 系列 : 0.04μm, SV-C4500 系列 : 0.02μm
	Z2轴(立柱）	1 μm
测力		SV-C3200 系列 : 30mN ( 可调使用重量）
		SV-C4500 系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN ( 根据软件转换）
测头方向		SV-C3200 系列 : 垂直方向 ( 向上 / 向下单独测量 )
		SV-C4500 系列 : 垂直方向 ( 向上 / 向根据配重调整）
? 通用时
Z2轴(立柱)移动量		300mm	500mm		300mm	500mm
X 轴倾斜角度		±45o
驱动速度	X轴	0 - 80mm/s 外加手动
	Z2轴(立柱)	0 - 30mm/s 外加手动
测量速度		0.02 - 5mm/s