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霍尔效应测试系统HEMS测量包括:•迁移率测试•DCHEMS:10^6cm2/Vsto10cm2/Vs•ACHEMS:10cm2/Vsto0
霍尔效应测试系统HEMS
测量包括:
• 迁移率测试
• DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs
• AC HEMS: 10cm2/Vs to /Vs
• 载流子浓度测试
• 电阻率测试
• 电阻测量
• 低电阻范围 1uohm to 1Mohm
• 宽电阻范围 1uohm to 100Gohm
• 高电阻范围 1ohm to 100Gohm
• 范德堡法测试范围
• 霍尔巴法测试
磁帽:
• 可更换帽
• 标准25mm
• 在0-130mm间距连续可调
• 更大帽直径可选,50mm,75mm
电磁铁:
• ±@100mmgapwith25mmpoleface
• ±35V, ±70A电源
• 磁场>±IT@25mmpolegap
• 线圈电阻: Ω (20°C)
• 水冷
温度选项:
• 低温 3K-300K
• 高温300K-1273K
纳米磁学高斯计:
• 磁场扫描采用集成高斯计
• 磁场校准采用霍尔探头
• 高灵敏度的磁场测量
• 所有参数可通过软件控制
样品架:
• 4,6 or8范德堡或霍尔巴测试设计
• 易于样品安装与弹簧连接
• 5mmx5mm样品大小(提供更大选件)
• 多个样品安装
控制器和软件:
• 使用我们软件可逐层的进行迁移率分析
• 基于C# 的全自动软件分析
• 非常宽的温度测试范围,3-1,300K
• 采用高斯计进行磁场的控制
• 非常容易的进行范德堡霍尔巴方法样品测试
• 提供软件终生升
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