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产品型号:所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 适用于多种晶圆量测应用•模块量测-DC-IV
产品型号:TS3500 Probe System所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: TS3000ProbeSystem半自动300mm探针台测试系统•模块量测-DC-IV/DC-CV/Pulsed-IV•高温度范围-60°C至300°C•大的灵...
产品型号:TS3000 Probe System所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 霍尔效应测试系统HEMS测量包括:•迁移率测试•DCHEMS:10^6cm2/Vsto10cm2/Vs•ACHEMS:10cm2/Vsto0
产品型号:HEMS所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 振动样品磁强计VSM振动样品磁强计VSM•振动头振动频率(校准):1-100Hz•VSM振荡幅度范围:0.1mm-5mm•大样品直径:6mm•适用于液体、粉末、...
产品型号:所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 霍尔效应测试系统EzHEMS•电阻率测量范围:10-4-109Ω·cm(取决于样本)•迁移率:1-107cm2/V·S(取决于样本)•载流子浓度:107-102...
产品型号:EzHEMS所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: TS2000-HPProbeSystem半自动化探针台测试系统MPI的TS2000-HP半自动化探针台测试系统可提供8英寸及以下晶圆器件的高功率测量,*的Shi...
产品型号:TS2000-HP Probe System所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 适用于多种晶圆量测应用,•如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆可靠性(WLR)和失效分析(FA)MPIShielDEnvironment™屏蔽环...
产品型号:TS200-SE Probe System所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 布鲁克Bruker三维光学轮廓仪ContourX-500ContourX-500光学轮廓仪是功能面的自动化台式系统,可快速完成非接触式三维表面计量
产品型号:ContourX-500所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: ThermoScientificIntegrion高压离子色谱耐压zui高的离子色谱泵
产品型号:Integrion所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 布鲁克Bruker三维光学轮廓仪ContourGT-XContourGT-X三维光学轮廓仪提供高性能非接触表面测量,适用于实验室研究和生产过程控制
产品型号:ContourGT-X所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: WB-200半自动引线键合机可进行球焊、锲焊、金线键合、跳焊(Pump)技术规格特点:-锲焊、球焊、跳焊;-半自动和手动键合模式;-焊线直径:17μm-50μm...
产品型号:WB-200所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 布鲁克Bruker光学轮廓仪ContourX-200ContourX-200光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的融合,是同类产品中、最准...
产品型号:ContourX-200所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: TheHysitronPI89扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同时进行定量纳米力学测试
产品型号:PI 89所在地:更新时间:2023-06-16 在线留言详细摘要: 布鲁克Bruker三维光学轮廓仪ContourSP大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术,使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量效率比上一代白光...
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