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非接触式单点金属测厚仪EddyCus TF lab 2020MT

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更新时间：2023-02-28 12:44:59浏览次数：107次

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产品简介

非接触式单点金属测厚仪EddyCusTFlab2020MT产品简介EddyCusTFlab2020MT允许对透明和非透明层进行非接触式金属厚度测量

详细介绍

非接触式单点金属测厚仪EddyCus TF lab 2020MT

产品简介

EddyCus® TF lab 2020MT 允许对透明和非透明层进行非接触式金属厚度测量。使用非接触式涡流传感器进行测量。它实时确定具有已知或（相当）恒定电导率的材料的金属厚度。这种非接触式测试技术可以在很宽的厚度范围内进行精确测量，从几纳米厚度开始，一直到厚金属片材和板材的表征。该技术还能够表征被非导电材料覆盖的金属层。 SURAGUS 为非常薄的层以及非常厚的金属和普通合金提供材料特定的设置。该测量方法非常稳健，具有高重复性和高精度。此外，它不需要任何光学透明度，也不需要物理接触。因此，它用于快速测试或系统质量保证的广泛应用。

产品优势

软件和设备控制

非常人性化的软件
直观的触摸显示屏导航
实时测量薄层电阻和层厚
软件辅助手动映射选项
各种数据保存和导出选项

技术参数

测量技术	非接触式涡流传感器
基质	箔、玻璃、晶片等。
基底面积	8英寸/ 204毫米x 204毫米(三面开口)
大值样品厚度/传感器间隙	3 / 5 / 10 / 25毫米(由厚的样品确定)
金属厚度范围精度取决于所选的设置和类型/ 金属的导电性(例如铜、铝、银)	低1–10纳米；2–5%的精确度标准10-1000纳米；1–3%的精确度高1–100米；0.5–3%的精度
金属厚度校准	直接厚度校准/薄层电阻转换
设备尺寸(宽高比)	11.4英寸x 5.5英寸x 17.5英寸/ 290毫米x 140毫米x 445毫米
重量	10公斤
其他可用功能/其他工具配置	薄层电阻测量/电导率/电阻率/电各向异性/渗透率(β)