切片质量检测仪器,切片质量检测仪器价格|报价-北京合能阳光新能源技术有限公司

少子寿命测试仪：HS-CLT
合能阳光少子寿命测试仪(HS-CLT)，是一款功能强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅...
型号：所在地：参考价：面议更新时间：2022/3/12 11:40:35 对比
硅芯电阻率测试仪：HS-SFRT
产品介绍:合能阳光硅芯电阻率测试仪(HS-SFRT)，是一款测量圆柱晶体硅电阻率测试仪器，可测量硅芯，检磷棒，检硼棒，籽晶等，由于仪器大大消除了珀尔帖效应、塞贝...
型号：所在地：参考价：面议更新时间：2022/3/12 11:31:30 对比
原生多晶型号测试仪：HS-PSTT
产品介绍：合能阳光原生多晶型号测试仪(HS-PSTT)，是一款半导体材料型号测试仪器，具有大量程测试范围的特点，尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料（含...
型号：所在地：参考价：面议更新时间：2022/3/12 11:27:26 对比
硅片表面线痕深度测试仪：HS-SRT-301
硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)可用于测试硅片的表面线痕深度，具有便于携带、触摸屏便捷操作、液晶显示、节能等优点，同时内置打印机和充电电池，所有设...
型号：所在地：参考价：面议更新时间：2022/3/12 11:24:27 对比

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