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HS-ATS-100硅片电池片自动测试架

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所在地北京市

更新时间:2017-12-11 23:54:01浏览次数:433次

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HS-ATS-100硅片电池片自动测试架是使用单板机可编程控制,步进电机驱动,丝杆滑动,定位精确,操作方便,可随意调节探头的下降Z低点,上升Z高点固定,探头在Z高Z低点的停留时间范围广(从0-20秒)

 

HS-ATS-100硅片电池片自动测试架是使用单板机可编程控制,步进电机驱动,丝杆滑动,定位精确,操作方便,可随意调节探头的下降zui低点,上升zui高点固定,探头在zui高zui低点的停留时间范围广(从0-20秒)。硅片硅锭均可测量,zui大可测量高度为90mm(可按用户要求加高),探针头zui大有效行程12mm,测试台面zui大直径200mm
2、使用方法
电机在电源开关接通和按停止按钮后自动上升至zui高点,进入备用状态。
(1)自动: 按自动按钮电机就按设定自动上升和下降。上升的zui高点是固定不变的,下降的zui低点可以随意调节,在zui高和zui低点的停留时间是可调的。当电机进入自动状态时按其他功能按钮均无效,如需停止运行进行其它操作,按下停止按钮1秒即可。
(2)手动: 按一下手动按钮电机就下降至当前设定的zui低点,再按一下就上升至zui高点。
注:如需重新设定zui低点时,设定结束后先按停止按钮再进行手动操做。如在刚设定好zui低点后直接按手动按钮探头会下降到导轨的zui低点,(行程开关接通为止)可能会对被测试物品造成损坏。
(3)定位: 当需要重新修改探头下降的zui低点时,设备必须在备用状态下才可进行修改,修改前要先把以前的数据清除掉,按定位清0即可。之后按定位按钮,每按一下探头就往下移动0.2 mm,数据自动加1,zui大数据约为50-60,到达导轨的zui低点时行程开关接通数据自动回0,再按定位按钮无效。探头下降的zui低点设定好后按停止按钮1秒,就可以进行自动或手动操作。
(4)定位清0:在需要重新设定探头下降zui低点时使用,按下后清除原有数据,以便重新设定。
(5)上延时: 设定探头在上升至zui高点时需要停留的时间,先按上延时按钮功能窗口显示UP,这时按       调整到需要时间。时间调节范围从0-50秒,每按一次数据自动+或-1(范围为0-255),对应时间约为1≈0.2秒,时间设定好后再按上延时按钮确定。
(6)下延时: 设定探头在下降至zui低点时探头需要在被测样品上的停留时间,先按下延时按钮功能窗口显示d∩,这时按       调整到需要时间。时间调节范围从0-50秒,每按一次数据自动+或-1(范围为0-255),对应时间约为1≈0.2秒,时间设定好后再按下延时按钮确定。
(7)   :设定探头在下降至zui低点或探头在上升至zui高点时的停留时间,每按一次数据自动+1(范围为0-255),大于255时自动回0,对应时间约为数据1≈0.2秒
(8)   :设定探头在下降至zui低点或探头在上升至zui高点时的停留时间,每按一次数据自动-1(范围为0-255),小于0后自动跳到255,对应时间约为数据1≈0.2秒
 
3、日常维护及使用
(1)测试台面用久后可卸下研磨避免刮花硅片。测试台面有3,4,5,6英寸的定位圈,可方便快速中心点定位。
(2)探头可360度旋转,探针旋转到合适位置通过探针头锁紧套环锁定。探针头组内有缓冲弹簧降低下降时探针对硅片的冲击,可通过里面的弹簧定位圈调整缓冲弹簧的升缩量。
(3)探针头组重约650克,一个砝码重约130克,用电动架测方块电阻、低阻薄硅片无需加砝码,在设定探头下降zui低点时,探针头底部绝缘片接触到硅片即可;测量高阻硅片、硅块可加上一个砝码配重,在设定探头下降zui低点时,一般把探针头组顶起0.2-0.5mm。
(4)在电动架上的机械活动部分需定期加润滑油,保证活动顺畅。在探针头组上的两条直线轴承上也需定期加润滑油。
(5)驱动部分采用了步进电极控制,正常工作温度小于70℃。
4、主机技术
(4)供电电源:
     AC 220V±10%    50/60 Hz    功率:40W
(5)使用环境:
温度:23±2℃   相对湿度:≤65%
无较强的电场干扰,无强光直接照射
(6)重量、体积:
主机重量:15kg
体积:310×330×400(单位:mm 长度×宽度×高度)
 

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