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韩国Micro Pioneer XRF-2000测厚仪

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更新时间：2024-02-25 12:35:47浏览次数：32次

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产品简介

韩国Micro Pioneer XRF-2000测厚仪

详细介绍

XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的***。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92 。
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能
电脑系统：IBM相容,17"显示器
综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.