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深圳市欣同达科技有限公司
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DDR4-16位内存条测试座，导电胶结构DDR内存条测试座适用于DDR3,DDR4内存条颗粒测试用于芯片的快速筛选，验证，测试，采用手动翻盖式结构，操作方便高效.测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可可选探针和导电胶结构探针可更换，维修方便，成本低
适用于DDR3 DDR4 DDR5 用于芯片的快速验证，测试. 适用于手测 有探针和导电胶2种导电结构选择 导正框可更换，多种尺寸兼容 提供8位及16位的测试治具 测试座材料： Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530 座头材料： AL，Cu，POM 探针类型： 弹簧探针/导电胶 工作温度： -45 ~ 125度 探针寿命： 30万次 弹簧弹力： 20g ~ 30g per Pin 电流： 1A （ 电阻： 50mΩ 频宽： > 3.6GHZ @-1db DDR内存条测试座 适用于DDR3,DDR4内存条颗粒测试 用于芯片的快速筛选，验证，测试， 采用手动翻盖式结构，操作方便高效. 测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可 可选探针和导电胶结构 探针可更换，维修方便，成本低 DDR内存条测试座 适用于DDR3,DDR4内存条颗粒测试 用于芯片的快速筛选，验证，测试， 采用手动翻盖式结构，操作方便高效. 测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可 可选探针和导电胶结构 探针可更换，维修方便，成本低
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